Produto

Bloco para phased array

CaracterĆ­sticas

Blocos para ā€œPHASED ARRAYā€, TOFD (Time of Flight Difraction) e TĆ©cnicas de Imagem Computadorizada (CIT)

Bloco PA 1: Produzido especificamente para esta tĆ©cnica de inspeĆ§Ć£o, com a finalidade de ajustar adequadamente o equipamento e sua imagem.

Este bloco foi desenhado especificamente para uso em Phased Array e possui sĆ©ries de furos laterais, furos inclinados (angulares) e furos prĆ³ximos Ć  superfĆ­cie, simulando diversas imagens de descontinuidades em condiƧƵes e posiƧƵes para verificaĆ§Ć£o e ajustes de equipamentos. Outras descontinuidades poderĆ£o ser agregadas por solicitaĆ§Ć£o do cliente, para sua aplicaĆ§Ć£o prĆ³pria.

  • Melhor visualizaĆ§Ć£o do feixe sĆ“nico e respectivas imagens e cotas
  • ConstruĆ§Ć£o da curva DAC em PA
  • DeterminaĆ§Ć£o do perfil do feixe de PA no material
  • AvaliaĆ§Ć£o da resoluĆ§Ć£o linear e angular do sistema transdutor/equipamento
  • AvaliaĆ§Ć£o das caracterĆ­sticas de foco do sistema
  • ReferĆŖncia para verificar e acompanhar as caracterĆ­sticas do instrumento e transdutor.
CaracterĆ­sticas

Blocos para ā€œPHASED ARRAYā€, TOFD (Time of Flight Difraction) e TĆ©cnicas de Imagem Computadorizada (CIT)

Bloco PA 1: Produzido especificamente para esta tĆ©cnica de inspeĆ§Ć£o, com a finalidade de ajustar adequadamente o equipamento e sua imagem.

Este bloco foi desenhado especificamente para uso em Phased Array e possui sĆ©ries de furos laterais, furos inclinados (angulares) e furos prĆ³ximos Ć  superfĆ­cie, simulando diversas imagens de descontinuidades em condiƧƵes e posiƧƵes para verificaĆ§Ć£o e ajustes de equipamentos. Outras descontinuidades poderĆ£o ser agregadas por solicitaĆ§Ć£o do cliente, para sua aplicaĆ§Ć£o prĆ³pria.

  • Melhor visualizaĆ§Ć£o do feixe sĆ“nico e respectivas imagens e cotas
  • ConstruĆ§Ć£o da curva DAC em PA
  • DeterminaĆ§Ć£o do perfil do feixe de PA no material
  • AvaliaĆ§Ć£o da resoluĆ§Ć£o linear e angular do sistema transdutor/equipamento
  • AvaliaĆ§Ć£o das caracterĆ­sticas de foco do sistema
  • ReferĆŖncia para verificar e acompanhar as caracterĆ­sticas do instrumento e transdutor.